第四届植物与藻类综合表型学会议

参会价值

2026 年 IPAP 会议搭建优质交流平台，助力参会者对接顶尖行业专家、洞悉前沿技术成果，实现学术界与产业界深度知识互通。大会设置主旨报告、专题分会场、实操研讨会及墙报展示等多种形式，兼顾深度学术研讨与轻松自由交流。

目前多位知名专家已确定参会并给予鼎力支持，分别为：

Thomas Altmann 教授     德国加特斯莱本莱布尼茨植物遗传与作物研究所 

 Sónia Negrão 教授         爱尔兰都柏林大学 

Mathew Lewsey 教授     澳大利亚拉筹伯大学 

Yagut Allahverdiyeva-Rinne 教授     芬兰图尔库大学 

James Whelan 教授      中国浙江大学 

本次会议由PSI主办，国际植物表型网络（IPPN）和澳大利亚科学仪器（SIA）联合协办

热忱欢迎所有高校科研人员与行业研发工作者参会，共同学习高通量表型分析领域新技术与研究方法。

主旨演讲嘉宾

会议研讨主题

• 植物和藻类表型传感器技术的进展

• 人工智能与计算机视觉在表型分析中的应用

• 可持续农业的表型技术

• 动态和受控环境中的表型学

• 气候韧性作物表型分析的新方法

• 机器人学与藻类表型学

参会人员可实地参观PSI 研发中心，该中心位于PSI主生产区旁，拥有先进的植物和藻类表型研究与开发中心。大会还将开设专项专题研讨会，具体议题后续另行通知。

重要时间节点：

• 初步早鸟注册通过电子邮件：自2025年10月起

• 在线注册开始：截至2026年1月

• 30th2026年4月：早鸟报名截止

• 25th2026年5月：摘要提交截止日期

• 25th- 28th2026年6月：会议日期

PSI厂家提供的植物表型成像分析系统整合了叶绿素荧光动力学成像、植物形态学和RGB真彩3D成像、植物热成像、植物高光谱成像、植物NIR成像、自动水分和施肥管理、自动称重、成像室内环境控制、自动成像系统、植物传输系统、自动条形码识别管理、植物图像控制软件和植物表型数据分析等系统，用于植物高通量表型成像分析测量、植物胁迫响应分析测量、植物生长分析测量、植物生态毒理学研究、性状识别及植物生理生态分析研究等。